CID检测器与CCD检测器的原理

仪器资料 · 发表于 2017-8-24 19:10:15

CID检测器与CCD检测器的原理

光电倍增管，CCD，CID检测器的差异
下面好像是一家之言，不过可以参考一下下。
检测器：用几个厂家的仪器对比进行说明，如下：
CID电荷注射器件，天生的抗溢出器件。
真正全谱直读，可任意元素的任意谱线读取。
无逸出和每个单元独立读取，高低含量可在一次测定中同时获得。
5300的SCD分段电荷耦合器件，只6千多个检测单元只能提供235个测量段的信息，谱线信息量仅占6%，对于复杂样品谱线选择性受抑制。
2100用小段CCD，只相当于覆盖0.0Xnm, 上端测量参比光, 下端测样品光, 目的是可不断做谱线校正
Vista Pro 采用7万多个检测单元的改良的CCD电荷耦合器件, 放三排寄存器, 可较好地防止电子溢出。但高低含量无法同时获得稳定结果。
Vista MPX采用通用型的数码相机用CCD，没有抗溢出设计，高含量测定极易溢出，无法获得稳定结果
CID检测器特有“无逸出”，“非破坏性读取”，“随机读取”的特点，能自动控制各个测量单元的最佳测量时间，实现样品主量、微量、痕量元素的同时测定。
SCD或CCD检测器往往需依靠外围电路来控制爆光时间，防止“逸出”。改良的SCD或CCD成本也不低，而民用型CCD则成本低廉，对高低含量的同时测定是不能为力的。
所以，CID是真正的没有溢出，所以对于一次样品中的高、中、低含量都能很好的测定。
光电倍增管
外光电效应所释放的电子打在物体上能释放出更多的电子的现象称为二次电子倍增。光电倍增管就是根据二次电子倍增现象制造的。它由一个光阴极、多个打拿极和一个阳极所组成，见图，每一个电极保持比前一个电极高得多的电压（如100V）。当入射光照射到光阴极而释放出电子时，电子在高真空中被电场加速，打到第一打拿极上。一个入射电子的能量给予打拿极中的多个电子，从而每一个入射电子平均使打拿极表面发射几个电子。二次发射的电子又被加速打到第二打拿极上，电子数目再度被二次发射过程倍增，如此逐级进一步倍增，直到电子聚集到管子阳极为止。通常光电倍增管约有十二个打拿极，电子放大系数（或称增益）可达108，特别适合于对微弱光强的测量，普遍为光电直读光谱仪所采用。
光电倍增管的窗口可分为侧窗式和端窗式两种……