二次离子质谱分析技术及其应用综述

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二次离子质谱分析技术及其应用综述二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry,缩写符号为 SIMS)是一种通过用质谱法分析一次离子溅射产生的正、负二次离子获得样品表面元素、同位素、化合物组分和分子结构以及一定的晶体结构信息，扫描一次离子束或直接成像可以得到各种成分的而分布图象，逐层剥蚀还可以得到各种成分的深度分布，从而得到三维成分分布信息。SIMS以其很高的灵敏度、很宽的动态范围和优良的深度分辨己逐步发展成为一种很有特色的表而分析手段。 jvnf|10[/pan]

阅读:3972 | 评论:24网友评论：

cheese 发表于 2019-6-21 16:46:14

我帶著醬油瓶路過一起下吧的，還是忍不住小手一抖！

在竹发表于 2019-6-20 07:27:38

这个資源一般般，不過我喜歡

hanchou 发表于 2019-6-18 21:23:35

啥也不说了，感谢一起下吧和楼主的分享哇！

wyrb 发表于 2019-6-17 03:02:00

這個資源非常需要，支持一起下吧！

fengguowuhen 发表于 2019-6-14 17:22:25

额，為神馬現在才發現一起下吧的資源啊~@_@

我来说两句：

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