GB/T 19502-2004 表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则

标准资料 · 发表于 2017-9-7 19:15:49

GB/T 19502-2004 表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则

本标准等同采用ISO 14707:2000《表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则》。
本标准在实施应用中，应同时引用ISO 3497:1990《金属镀层镀层厚度的测定X射线光谱法》
等相关的技术标准。
本标准的附录A为规范性附录

辉光放电发射光谱法(GI}OES)用于测定固体样品的化学成分，它既可以进行体材分析，也可以进
行深度剖析。体材分析时，对样品中元素含量在深度方向上的变化认为是可以忽略的;而深度剖析的主
要目的通常是要获得浓度随深度变化的信息。辉光放电发射光谱法深度剖面的厚度范围从几个纳米到
一百微米左右。
与任何一种仪器分析方法一样，辉光放电发射光谱分析的质量主要取决于如何使仪器处于最佳状
态和如何正确地使用仪器。为确保辉光放电发射光谱分析的质量，应遵循本标准所提供的方法通则。

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标准资料 · 发表于 2017-12-6 07:30:00

這個資源非常需要，支持一起下吧！

标准资料 · 发表于 2018-10-26 03:23:18

么有分，谁能送我点搬砖数值啊::>_<::

GB/T 19502-2004 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则

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