ICP-MS 测定地质样品中痕量金的预处理方法

仪器资料 · 发表于 2018-8-14 16:25:19

金在电子、电气、军事、通讯技术、宇航、化工、陶瓷、医疗等领域以及人类生活中都有极其
广泛重要的应用。金具有良好的化学稳定性，不容易迁移富集，因而金在岩石矿物中的含量较低地
壳中的丰度仅为5×10-7%[1]，这就使得对金的分析提出了越来越高的要求，许多分析工作者一直在寻
求一种简单易行、应用广泛、灵敏度高的测定方法。20 世纪80 年代初发展起来的电感耦合等离子
体质谱法(ICP-MS)分析技术，以独特的接口将电感耦合等离子体的高温电离特性与4 极质谱仪的灵
敏快速扫描特性相结合，具有检出限低、线性范围宽、谱图简单、短时间内同时测定多元素以及同
位素比测定等优点，使其成为目前应用最广泛的无机元素分析技术。
ICP-MS 测定金元素，国外在20 世纪80 年代后期就有报道，我国直到上世纪90 年代中期才开
始研究。有关金分析进展[2~9]和测定方法[10~14]的文章较多，Perry 等[15]全面评述了以ICP-MS 法测定
各种样品中铂族元素(PGE)和Au 的研究及应用。但系统评述ICP-MS 测定金的预处理方法还未见报道，作者对近年来 ICP-MS 法测定地质品样中金的预处理方法进行综述。

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