教你玩转Agilent 720-ES ICP-OES的 FACT技术的使用

仪器资料 · 发表于 2018-8-17 11:11:21

原理：Fast Automated Curve-Fitting Technique快速自动曲线拟合技术
FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量，用所得到的谱图数据进行图形解析，从而将被分析谱线旁边的干扰谱线剥离出去。
采用 FACT wizard, 你需要对被分析元素的纯标样、空白和干扰溶液进行测量，建立谱形模型。一旦你对每个模型的谱图感到满意后，该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。在以后的分析当中，每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。
直接光谱重叠的情况下，不可采用FACT，可用IEC处理。模型和分析物检测方法的光学参数要一致，如分辨率。

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