用X射线衍射仪法测定纯铜点阵常数

仪器资料 · 发表于 2018-10-12 16:45:45

用X射线衍射仪法测定纯铜点阵常数
精确地测定金属与合金的点阵常数, 可用于研究内应力的存在、表面渗层分析、加入少量
合金元素致使不同状态下对固溶体形成和分解的影响以及物理性能密度和膨胀系数的测定.
因而, 如何精确地测定点阵常数就成为金属材料实验研究者十分关心的问题. 通常使用的方法
是X 射线衍射照相法(德拜法、劳厄法) [ 1 ]; 由于仪器条件的改善, 利用X 射线衍射仪法也逐渐
地得以应用[ 2 ]. 衍射仪法较照相法有着明显的优点, 体现在衍射仪线条强度灵敏度高, 因无需
使用照相底片而显然方便快捷且避免了因底片收缩引起的误差, 再者也便于安装高温或低温
设备操作. 我们运用衍射仪法对光谱纯铜的点阵常数进行了精确测定, 从实验技术方面予以阐
述, 以期对从事相关工作者有所帮助.

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