楼主
5liming   发表于 2019-1-15 16:00:31 |栏目:仪器资料
  • 资料类型 :应用方法 
  • 资源级别: 三星以上
  • 文件类型 : pdf 
  • 适合人群 : 初学者
  • 关联厂家 :
  • 仪器型号:
二次离子质谱分析技术及其应用综述
    二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry,缩写符号为
SIMS)是一种通过用质谱法分析一次离子溅射产生的正、负二次离子
获得样品表面元素、同位素、化合物组分和分子结构以及一定的晶体
结构信息,扫描一次离子束或直接成像可以得到各种成分的面分布图
象,逐层剥蚀还可以得到各种成分的深度分布,从而得到三维成分分
布信息。SIMS以其很高的灵敏度、很宽的动态范围和优良的深度分
辨己逐步发展成为一种很有特色的表面分析手段。

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dafengqi

等待验证会员

沙发
dafengqi   发表于 2019-2-3 06:53:42 |栏目:仪器资料
這麼好的帖子都沒有人頂!d=====( ̄▽ ̄*)b,我來多頂頂樓主

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ttytty

氦级

板凳
ttytty   发表于 2019-2-24 20:06:19 |栏目:仪器资料
這個資源非常需要,支持一起下吧!

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eric8903

氦级

地板
eric8903   发表于 2019-3-19 08:03:53 |栏目:仪器资料
啥也不说了,感谢一起下吧和楼主的分享哇!

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qdiscuz

氦级

5#
qdiscuz   发表于 2019-4-10 08:37:04 |栏目:仪器资料
珍惜生命,果断回帖;酌一杯清茶,品一起下吧资源

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