氢化物发生与ICP-AES联用后等离子体的性质研究

仪器资料 · 发表于 2019-4-26 15:39:06

氢化物发生与ICP-AES联用后等离子体的性质研究
电子密度ne, 电子温度T e 和激发温度T exc是表征ICP 性能的基本放电参数。关于气
溶胶中水的导入对等离子体激发温度和电子密度的影响, 国内外已有不少报道[ 1- 6 ]。直接
向ICP 分析通道中加入少量氢气, 可使激发温度升高、谱线强度增强, 检出限降低[ 7- 9 ]。氢
化物发生法与ICPöA ES 联用后, ICP 分析通道中不仅引入了氢化物, 同时也引入氢气, 引
入氢的量由氢化反应来控制。因此, 氢化物发生对ICP 的激发性能产生的影响与水溶液
雾化进样应有所不同。我们利用简易连续氢化物发生装置, 测量了等离子体的有关物理参
数、谱线的强度及形成氢化物元素的检出限, 并将氢化物发生进样同气动雾化进样对比,
研究了氢化物发生法同ICPöA ES 联用后, 等离子体激发性能的变化规律。

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