JEDEC-CDM-JESD22-C101D

标准资料 · 发表于 2022-7-16 16:22:47

Field-Induced Charged-Device Model
Test Method for Electrostatic-
Discharge-Withstand Thresholds of
Microelectronic Components
JEDEC-CDM-JESD22-C101D- 一起下吧

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标准资料 · 发表于 2022-7-17 05:00:38

这个資源一般般，不過我喜歡

标准资料 · 发表于 2022-7-19 06:26:37

珍惜生命，果断回帖；酌一杯清茶，品一起下吧资源

标准资料 · 发表于 2022-7-20 14:10:02

珍惜生命，果断回帖；酌一杯清茶，品一起下吧资源

标准资料 · 发表于 2022-7-21 18:02:51

额，為神馬現在才發現一起下吧的資源啊~@_@

标准资料 · 发表于 2022-7-22 18:25:38

這麼好的帖子都沒有人頂！d=====(￣▽￣*)b，我來多頂頂樓主

标准资料 · 发表于 2022-7-25 06:24:59

这个資源一般般，不過我喜歡

标准资料 · 发表于 2022-7-26 16:57:48

确实是难得好帖啊，讓我涕流滿面，頂頂一起下吧先

标准资料 · 发表于 2022-7-28 16:43:22

這麼好的帖子都沒有人頂！d=====(￣▽￣*)b，我來多頂頂樓主

标准资料 · 发表于 2022-7-31 02:47:30

珍惜生命，果断回帖；酌一杯清茶，品一起下吧资源