氢化物发生原子荧光光谱法测定地球化学样品中痕量铋

仪器资料 · 发表于 2017-6-17 15:01:02

氢化物发生一原子荧光光谱法(HG～AFS)以
方法检出限低、精密度好、准确度高、操作简便等优
点已被广泛应用于地质、冶金、环境等科学领域。
文献[1～4]报道AFS测定Bi的方法，通常直接用
王水分解样品后与As、Sb用同一份母液进行测定，
部分元素的干扰比较严重，而且采用无极放电灯做
激发光源，原子化器的预加热温度在900℃ 以上，
记忆效应严重，从而影响测定的精密度和准确度。
本文利用配有氩氢火焰低温自动点燃装置的
XGY一1011A型原子荧光光谱仪，实现了高灵敏度
无记忆效应的测定方式。在仪器最优化测定条件
下，建立了以王水分解样品，用KMnO 氧化处理后，
直接测定痕量Bi的方法。研究对比了不同测定体
系中共存元素对Bi的干扰，在此体系中部分共存干
扰元素尤其是贵金属元素的允许量大为提高。
本方法已应用于批量地球化学样品中Bi的测
定，并可在同一份样品溶液中，分别测定As、Sb、
Bi、Hg